22/03/2021

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Design for Test : la réponse aux exigences grandissantes !

Design for Test : la réponse aux exigences grandissantes !

Prévenir et anticiper les erreurs dans l’électronique commence dès le processus de conception, dans l’objectif de contrer les éventuelles erreurs de fabrication le plus tôt possible. Respecter certaines recommandations augmente considérablement la capacité de tester les assemblages plus tard, ce qui réduit considérablement les coûts !

Design for Test / Testability / Testing…

Le Design for Test ou DFT est un terme utilisé pour parler de la conception de composants électroniques complexes.

 

Il désigne la prise en considération lors du Design (ou développement) de plusieurs facteurs importants :

  • Faciliter l’analyse en cas d’un mauvais fonctionnement du composant : pour modifier le design ou les méthodes de fabrication et obtenir des puces parfaitement fonctionnelles.
  • Réduire le temps nécessaire à tester la fonctionnalité de chaque composant lors de la production de masse.

 

Avec une complexité des puces grandissante, les fabricants sont amenés à vérifier le bon fonctionnement de chaque puce. Le prix des équipements de test est tel que le coût du test par composant est loin d’être négligeable. L’intérêt est donc de diminuer ce temps de test pour réduire l’équipement nécessaire tout en maintenant ou augmentant la production.

 

Le DFT est une partie essentielle du processus de fabrication des produits. Si les grandes entreprises ont intégré cette problématique dans leur conception, elle est souvent négligée par la plupart des startups, en particulier lorsqu’elles travaillent sur la première génération de leur produit.

DFT : pourquoi s’y mettre ?

Le DFT est nécessaire car, trop souvent, les contraintes de fabrication et de test ne sont envisagées qu’à la fin de la phase de routage, avant le transfert des données CAO vers la production.

 

Mais en raison de la complexité grandissante des cartes électroniques, il est maintenant obligatoire d’ajouter un moment dédié à la validation à chaque étape de la conception et de la fabrication jusqu’à la livraison, afin de maximiser ses chances de réussite.

 

La conception en vue du test permet de s’assurer qu’un circuit est testable et de vérifier le coût de ce test.

 

Les principaux objectifs sont les suivants :

 

  • Réduire le temps d’introduction sur le marché en rendant plus facile la phase de production de tests
  • Réduire le coût du test
  • Améliorer la qualité du test

Des exigences qui évoluent à grande vitesse

Les fabricants de cartes électroniques et les bureaux d’études font face à de plus en plus d’exigence sur la qualité de leurs produits avec une pression sans cesse croissante sur les prix.

 

Il est donc nécessaire de bien maîtriser les processus de fabrication et avoir une stratégie de test bien adaptée.

 

Cette stratégie devient la clé de voute pour l’obtention d’un produit « bon du premier coup » (First past Yield).

 

L’ensemble de la chaîne de fabrication évolue et une compréhension de l’usage et du rôle des différents outils de test apparait aujourd’hui primordiale.

 

Sur des marchés de plus en plus concurrentiels et exigeants, la fiabilité des produits est devenue un enjeu crucial pour les industriels. Les concepteurs doivent désormais penser la stratégie de test de leur produit en même temps que le design pour garantir sa performance et sa qualité.

En résumé…

POURQUOI LE DESIGN FOR TEST ? Pour sécuriser et fiabiliser un produit, améliorer sa testabilité, réduire la durée et le coût des tests…

 

COMMENT FAIRE DU DESIGN FOR TEST ? En optimisant le design du produit pour le test, en équilibrant la stratégie de test…

 

QUAND FAIRE DU DESIGN FOR TEST ? Lors de la conception d’un nouveau produit ou d’un re-design…

Découvrez-en plus sur le Design for Test

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